低介電玻璃纖維產(chǎn)品，憑借其低介電性能，正成為5G-A基礎(chǔ)設(shè)施建設(shè)中關(guān)鍵材料，為通信、人工智能、自動(dòng)駕駛等領(lǐng)域提供底層支撐。隨著5G，6G大規(guī)模網(wǎng)絡(luò)建設(shè)、智能手機(jī)等消費(fèi)電子產(chǎn)品整體的升級(jí)換代，將帶動(dòng)低介電玻纖市場(chǎng)需求。

       介電性能的測(cè)試方法主要有平行板電容法、電感法、同軸探針法、傳輸線法、自由空間法、諧振腔法。同其他測(cè)試方法相比，諧振腔法具備測(cè)試精度高以及可以測(cè)量低損耗材料的特點(diǎn)廣泛用于基片、印刷電路板等材料的測(cè)試。

一、測(cè)量原理

       使用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀來(lái)測(cè)量諧振頻率和諧振腔體夾具Q值，在測(cè)試開始時(shí)首先測(cè)量諧振腔空腔諧振頻率以及Q值，隨后加載被測(cè)樣品測(cè)量放置樣品后諧振腔諧振頻率和Q值。當(dāng)已知樣品的體積和諧振腔的其他參數(shù)時(shí)，可通過(guò)這些測(cè)量代入以下公式來(lái)計(jì)算介電常數(shù)和損耗角正切。（ε?為復(fù)介電常數(shù)，Q為品質(zhì)因子，f?為諧振頻率，L?為電感，π為圓周率）

ε? = 1 + (Q2/2πf?L?) [1/(1 - Q/(2πf?L?)]

二、測(cè)試系統(tǒng)

       SPDR測(cè)試系統(tǒng)主要由矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀、諧振腔夾具、測(cè)試軟件構(gòu)成，通過(guò)軟件控制矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀讀取空腔以及加載樣品后的諧振腔Q值和諧振頻率，并計(jì)算出介電常數(shù)和損耗正切。

       SPDR測(cè)試技術(shù)可獲得材料的介電常數(shù)和介電損耗（10-4），該方法是諧振方法，所以只會(huì)生成一個(gè)頻率點(diǎn)的報(bào)告。